长光华芯申请高功率半导体激光芯片性能评估及结构优化方法专利,有效提高评估结果准确度
天眼查知识产权信息显示,苏州长光华芯光电技术股份有限公司申请一项名为“高功率半导体激光芯片性能评估及结构优化方法“,公开号CN202410534321.3,申请日期为2024年4月。
芯闻快讯
2024年06月05日