CSPT 2026 | ZAS良率专家-中安半导体发布10.5nm灵敏度颗粒缺陷检测设备
未来半导体报道近日,中安半导体新品发布会暨技术交流会在上海举办,会上中安半导体重磅发布新一代 10.5nm 灵敏度颗粒缺陷检测设备,同时全面披露了公司在 3D 集成量测、硅片厂全流程质量管控领域的技术布局与落地成果。会上,中安半导体创始人、董事长曾安博士表示,自 2020 年成立以来,中安半导体始终锚定半导体前道量检测设备这一产业链核心卡点,专注自主研发与技术攻坚,从最初十几人的创业团队,成长为如
